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薄膜測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量薄膜厚度的精密儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子、光學(xué)、食品、化工等領(lǐng)域。該儀器可以測(cè)量各種材質(zhì)的薄膜厚度，如金屬、氧化物、氮化物、碳化物、半導(dǎo)體等。薄膜測(cè)厚儀的主要組成部分包括傳感器、測(cè)量系統(tǒng)和顯示器。傳感器是測(cè)厚儀的核...

熱激勵(lì)去極化電流（thermallystimulateddepolarizationcurrents,簡(jiǎn)寫為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間，加熱到一定溫度使...

鐵電測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料鐵電性質(zhì)的設(shè)備。鐵電性質(zhì)是指某些特殊材料在外加電場(chǎng)下會(huì)發(fā)生可逆的自發(fā)極化現(xiàn)象。這種材料具有許多重要應(yīng)用，例如壓電器件、存儲(chǔ)器和傳感器等。鐵電測(cè)試儀通常由以下幾個(gè)主要組成部分組成：1.供應(yīng)系統(tǒng)：提供穩(wěn)定而精確的直流...

測(cè)色儀是一種用于測(cè)量物體顏色的儀器。它通過檢測(cè)物體反射、透射或發(fā)射的光譜數(shù)據(jù)，然后根據(jù)這些數(shù)據(jù)計(jì)算出物體的顏色數(shù)值。測(cè)色儀通常包括以下幾個(gè)主要部分：1.光源：提供光線以照亮待測(cè)試的樣品。常見的光源有白熾燈、熒光燈和LED等。2.探頭：與待測(cè)...

一、薄膜測(cè)厚儀的基本原理薄膜測(cè)厚儀主要是利用光學(xué)干涉法，即將被測(cè)物體與參考面之間形成等距空氣隙，當(dāng)入射光在空氣和物體表面之間反彈時(shí)產(chǎn)生兩束反射光，在相遇處會(huì)發(fā)生疊加干涉現(xiàn)象。通過檢測(cè)干涉條紋的數(shù)量來確定光路差，從而計(jì)算出被測(cè)物體的厚度。二、...

鐵電分析儀是一種專門用于測(cè)試材料鐵電性能的儀器，它主要利用極化電場(chǎng)和交變電場(chǎng)來產(chǎn)生、測(cè)量材料的鐵電性質(zhì)。本文將對(duì)鐵電分析儀的技術(shù)原理、應(yīng)用以及發(fā)展趨勢(shì)等方面進(jìn)行詳細(xì)介紹。一、技術(shù)原理1.鐵電效應(yīng)在某些晶體中存在著一種特殊的極化現(xiàn)象，即當(dāng)外加...